استخدام طريقة تحليل طيف رامان في تحديد خصائص الطبقات الرقيقة من السيليكون المتبلورة في الطور السائل للخلايا الشمسية

Raman Spectroscopy for Analysis of Silicon Precursor Layers for Liquid Phase Crystallized Soalr Cells

dc.contributor.advisor	عثمان زلوم
dc.contributor.advisor	Maurice Nuys
dc.contributor.author	سهير جمال دياب نوفل	ar
dc.contributor.author	suhair jamal diab nofal	en
dc.date.accessioned	2020-06-14T09:18:58Z
dc.date.available	2020-06-14T09:18:58Z
dc.date.issued	2019-02-14
dc.identifier.other	21617005
dc.identifier.uri	https://dspace.alquds.edu/handle/20.500.12213/5425
dc.language.iso	en_US
dc.publisher	AL-Quds University	en
dc.publisher	جامعة القدس	ar
dc.subject	الفيزياء	ar
dc.subject	دراسات عليا	ar
dc.subject	رسالة ماجستير	ar
dc.subject	Physics	en
dc.subject	Higher Studies	en
dc.subject	Master Thesis	en
dc.title	استخدام طريقة تحليل طيف رامان في تحديد خصائص الطبقات الرقيقة من السيليكون المتبلورة في الطور السائل للخلايا الشمسية	ar
dc.title	Raman Spectroscopy for Analysis of Silicon Precursor Layers for Liquid Phase Crystallized Soalr Cells	en
dc.type	Thesis
dc.contributor.examiner	ماهر الجعبري
dc.contributor.examiner	حكمت هلال