Show simple item record

Raman Spectroscopy for Analysis of Silicon Precursor Layers for Liquid Phase Crystallized Soalr Cells

dc.contributor.advisorعثمان زلوم
dc.contributor.advisorMaurice Nuys
dc.contributor.authorسهير جمال دياب نوفلar
dc.contributor.authorsuhair jamal diab nofalen
dc.date.accessioned2020-06-14T09:18:58Z
dc.date.available2020-06-14T09:18:58Z
dc.date.issued2019-02-14
dc.identifier.other21617005
dc.identifier.urihttps://dspace.alquds.edu/handle/20.500.12213/5425
dc.language.isoen_US
dc.publisherAL-Quds Universityen
dc.publisherجامعة القدسar
dc.subjectالفيزياءar
dc.subjectدراسات علياar
dc.subjectرسالة ماجستيرar
dc.subjectPhysicsen
dc.subjectHigher Studiesen
dc.subjectMaster Thesisen
dc.titleاستخدام طريقة تحليل طيف رامان في تحديد خصائص الطبقات الرقيقة من السيليكون المتبلورة في الطور السائل للخلايا الشمسيةar
dc.titleRaman Spectroscopy for Analysis of Silicon Precursor Layers for Liquid Phase Crystallized Soalr Cellsen
dc.typeThesis
dc.contributor.examinerماهر الجعبري
dc.contributor.examinerحكمت هلال


Files in this item

Thumbnail
Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record