استخدام طريقة تحليل طيف رامان في تحديد خصائص الطبقات الرقيقة من السيليكون المتبلورة في الطور السائل للخلايا الشمسية
dc.contributor.advisor | عثمان زلوم | |
dc.contributor.advisor | Maurice Nuys | |
dc.contributor.author | سهير جمال دياب نوفل | ar |
dc.contributor.author | suhair jamal diab nofal | en |
dc.contributor.examiner | ماهر الجعبري | |
dc.contributor.examiner | حكمت هلال | |
dc.date.accessioned | 2020-06-14T09:18:58Z | |
dc.date.available | 2020-06-14T09:18:58Z | |
dc.date.issued | 2019-02-14 | |
dc.identifier.other | 21617005 | |
dc.identifier.uri | https://dspace.alquds.edu/handle/20.500.12213/5425 | |
dc.language.iso | en_US | |
dc.publisher | AL-Quds University | en |
dc.publisher | جامعة القدس | ar |
dc.subject | الفيزياء | ar |
dc.subject | دراسات عليا | ar |
dc.subject | رسالة ماجستير | ar |
dc.subject | Physics | en |
dc.subject | Higher Studies | en |
dc.subject | Master Thesis | en |
dc.title | استخدام طريقة تحليل طيف رامان في تحديد خصائص الطبقات الرقيقة من السيليكون المتبلورة في الطور السائل للخلايا الشمسية | ar |
dc.title | Raman Spectroscopy for Analysis of Silicon Precursor Layers for Liquid Phase Crystallized Soalr Cells | en |
dc.type | Thesis |